诺顶智能申请基于扩散模型的芯片缺陷检测专利，准确灵活地实现芯片缺陷检测

金融界2025年5月10日消息，国家知识产权局信息显示，广州诺顶智能科技有限公司申请一项名为“基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质”的专利，公开号CN119941725A，申请日期为2025年4月。

专利摘要显示，本申请公开了基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质，涉及芯片缺陷检测技术领域，包括：利用噪声编码器对加噪后的历史分割图像进行特征提取得到当前噪声特征；利用图像编码器对历史RGB原始图像进行特征提取得到当前图像特征，结合上述特征得到当前特征结合信息；利用注意力模块对当前特征结合信息进行处理，得到当前芯片缺陷预测图像和当前带噪声图像；通过噪声编码器对当前带噪声图像进行特征提取得到新的当前噪声特征，并利用提取模块对当前芯片缺陷预测图像进行特征提取以得到新的当前图像特征；重复上述步骤，直至满足预设训练结束条件，并输出相应的训练后芯片缺陷检测模型。如此一来，准确、灵活地实现了对芯片缺陷的检测。

天眼查资料显示，广州诺顶智能科技有限公司，成立于2016年，位于广州市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1194.2628万人民币。通过天眼查大数据分析，广州诺顶智能科技有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目24次，财产线索方面有商标信息11条，专利信息88条，此外企业还拥有行政许可23个。

本文源自：金融界

作者：情报员